写入完成后校验机制

v1.9 带来的重大改进

v1.9 是 EtchDroid 的一次完全重写。除了 Material You UI，最重大的功能增量就是写入后校验机制。在这之前的版本只做扇区拷贝，不验证写入结果——如果写入过程中 USB 连接不稳定、或者 U 盘有坏块，得到的就是一块表面"写入成功"但实际数据有损坏的启动盘。

校验做了什么

校验阶段是 EtchDroid 写入完成后的自动流程，不需要用户手动触发：

1. 从 U 盘的扇区 0 开始，逐块（通常 4MB 一块）读回刚写入的数据
2. 与手机存储里的源镜像文件进行逐字节比对
3. 所有块完全一致 → 校验通过，EtchDroid 提示"写入成功"
4. 任何一块有不匹配 → 校验失败，EtchDroid 提示写入过程中可能有问题，并建议重新写入

校验时间

校验本质上是再完整读一遍整个 U 盘的写入区域——所以校验时间 ≈ 写入时间。一个 1.5GB 的镜像：写入 2 分钟，校验还要 2 分钟，总共约 4 分钟。

v1.9 rc3 的发布说明提到校验过程的性能大幅提升——通过调整缓冲区和队列策略，校验阶段可以与写入阶段并行流水线化，缩短总耗时。但对用户来说，等待仍然不可避免。

校验失败了怎么办

校验失败（数据比对不一致）通常意味着以下几种情况之一：

EtchDroid 检测到校验失败后不会自动重试——它会在界面上提示，由用户决定是否重新写入。这是设计选择，避免在不知道问题根源的情况下盲目重复。

如果你跳过了校验

v1.9+ 的 EtchDroid 没有提供"跳过校验"的开关——校验是强制的。这让它和 balenaEtcher、Rufus 等工具的默认行为不同（这些工具默认也校验，但通常可以手动关闭）。EtchDroid 的观点很明确：在应急救场场景下，校验不是可选功能，是必须功能。